【国立大学法人大分大学】回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法

特許内容の解説

LSIの劣化故障について,BISTにより使用環境で最大分解能の故障診断を実現するための,テスト毎の期待署名をオンザフライで提供する回路機構

  • テストパターンが設定された診断対象回路の複数のスキャンFFに出力されるクロック信号の周期を設定するクロック周期設定部と、
  • 前記クロック周期設定部により所定の第1周期に設定された前記クロック信号が出力されたときに前記複数のスキャンFFから出力される応答パターンに基づいて生成された応答シグネチャと、前記クロック周期設定部により前記第1周期よりも長い第2周期に設定された前記クロック信号が出力されたときに前記複数のスキャンFFから出力される応答パターンに基づいて生成された期待シグネチャと、を比較する診断テスト部と、
  • を備えることを特徴とする回路診断テスト装置。

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  1. 車載回路などの自己診断テストシステムは、どのような状況にあっても精度良く実行される必要があり、それが車両の安全性に直結するものといえます。この発明によれば、高い負荷の状況にあっても診断テストの結果が詳細に得られるようですから、様々な機器や装置の安全性を高めることができそうですね。

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出願番号特願2019-027786
出願日 2019/2/19
出願人国立大学法人 大分大学
公開番号 特開2020-134303
公開日2020/8/31
登録番号特許第7195602号
特許権者国立大学法人 大分大学
発明の名称回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法
目的メモリ容量に制限されることなく高精度の診断テストを実施することが可能な回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法を提供する。
効果 メモリ容量に制限されることなく高精度の診断テストを実施することができる。
実施実績【無】
許諾実績【無】
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

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